{"product_id":"scheda-sd-grande-e-piccola-punto-doro-al-sedile-di-prova-dellago-a-doppia-testa-dip48","title":"Scheda di test SD DIP48 a doppia testa per circuiti integrati","description":"\u003ch2\u003eScheda test SD DIP48\u003c\/h2\u003e\u003cp\u003eLa scheda test SD DIP48 a doppia testa è progettata per verificare schede SD di diverse dimensioni che condividono la stessa disposizione dei pin. È destinata principalmente al test di circuiti integrati IC a bassa frequenza. La struttura con vibrazione manuale, piastra di pressione uniforme e slot di posizionamento ad alta precisione supporta un posizionamento stabile durante l'uso.\u003c\/p\u003e\u003ch3\u003eCaratteristiche principali\u003c\/h3\u003e\u003cul\u003e\n\u003cli\u003eDoppia testa con interfaccia DIP48.\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eProgettata per testare schede SD di diverse dimensioni con pin identici.\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eIndicata principalmente per circuiti integrati IC a bassa frequenza.\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eMateriale della sonda in rame berillio.\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eMateriali isolanti FR-4 e PPS.\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eStruttura a vibrazione manuale.\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003ePiastra superiore con pressione uniforme e stabile.\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSlot di posizionamento ad alta precisione.\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\u003ch3\u003eDati tecnici\u003c\/h3\u003e\u003cul\u003e\n\u003cli\u003e\n\u003cstrong\u003eInterfaccia:\u003c\/strong\u003e DIP48\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003e\n\u003cstrong\u003eMateriale della sonda:\u003c\/strong\u003e Rame berillio\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003e\n\u003cstrong\u003eMateriale isolante:\u003c\/strong\u003e FR-4 e PPS\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003e\n\u003cstrong\u003eDimensioni:\u003c\/strong\u003e 13 × 10 × 6 cm\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003e\n\u003cstrong\u003ePeso:\u003c\/strong\u003e 0,13 kg\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\u003ch3\u003eCompatibilità\u003c\/h3\u003e\u003cp\u003eSchede SD di diverse dimensioni con pin identici; soluzioni Chipsbank, UT165, Anguo, SMI e NETWORK tramite schede di rilevamento intercambiabili\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cimg data-seo-pipeline=\"1\" src=\"https:\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0934\/1258\/9893\/files\/TBD05543850.jpg?v=1741693404\" alt=\"Scheda di test SD DIP48 a doppia testa per circuiti integrati\" loading=\"lazy\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cimg data-seo-pipeline=\"1\" src=\"https:\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0934\/1258\/9893\/files\/TBD05543850_1.jpg?v=1741693404\" alt=\"Scheda di test SD DIP48 a doppia testa per circuiti integrati - immagine 2\" loading=\"lazy\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cimg data-seo-pipeline=\"1\" src=\"https:\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0934\/1258\/9893\/files\/TBD05543850_2.jpg?v=1741693404\" alt=\"Scheda di test SD DIP48 a doppia testa per circuiti integrati - immagine 3\" loading=\"lazy\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cimg data-seo-pipeline=\"1\" src=\"https:\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0934\/1258\/9893\/files\/TBD05543850_3.jpg?v=1741693404\" alt=\"Scheda di test SD DIP48 a doppia testa per circuiti integrati - immagine 4\" loading=\"lazy\"\u003e\u003c\/p\u003e","brand":"16e88.com","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":54320719954245,"sku":"TBD05543850","price":121.52,"currency_code":"EUR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0934\/1258\/9893\/files\/TBD05543850.jpg?v=1741693404","url":"https:\/\/22b2.com\/products\/scheda-sd-grande-e-piccola-punto-doro-al-sedile-di-prova-dellago-a-doppia-testa-dip48","provider":"22b2.com","version":"1.0","type":"link"}