Tester a strati Mijing C25 per schede madri iPhone 17

Tester schede madri iPhone

Il tester schede madri iPhone Mijing C25 è un dispositivo a strati per controllare diverse funzioni prima di completare una riparazione, senza saldare la scheda. Consente di verificare avvio, display, touch, fotocamera, registrazione, flash, suonerie, WiFi, Face ID e segnale sui modelli compatibili. Il design con foro sul retro riserva spazio per le operazioni di test.

Caratteristiche principali

• Permette test senza saldatura della scheda madre.
• Verifica avvio, display e touch.
• Supporta controlli di fotocamera, registrazione, flash e suonerie.
• Consente test di WiFi, Face ID e segnale.
• Il design con foro sul retro riserva spazio per i test.
• La sonda di test è descritta come migliorata.

Dati tecnici

• Modello: Mijing C25
• Dimensioni prodotto: 13 × 11 × 3 cm
• Peso prodotto: 0,30 kg

Compatibilità

iPhone 17 Pro, iPhone Air, iPhone 17 Pro Max, iPhone 17, iPhone 16e