Scheda di test SD DIP48 a doppia testa per circuiti integrati

SKU: TBD05543850
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Scheda di test SD DIP48 a doppia testa per circuiti integrati

€121,52

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Scheda test SD DIP48

La scheda test SD DIP48 a doppia testa è progettata per verificare schede SD di diverse dimensioni che condividono la stessa disposizione dei pin. È destinata principalmente al test di circuiti integrati IC a bassa frequenza. La struttura con vibrazione manuale, piastra di pressione uniforme e slot di posizionamento ad alta precisione supporta un posizionamento stabile durante l'uso.

Caratteristiche principali

  • Doppia testa con interfaccia DIP48.
  • Progettata per testare schede SD di diverse dimensioni con pin identici.
  • Indicata principalmente per circuiti integrati IC a bassa frequenza.
  • Materiale della sonda in rame berillio.
  • Materiali isolanti FR-4 e PPS.
  • Struttura a vibrazione manuale.
  • Piastra superiore con pressione uniforme e stabile.
  • Slot di posizionamento ad alta precisione.

Dati tecnici

  • Interfaccia: DIP48
  • Materiale della sonda: Rame berillio
  • Materiale isolante: FR-4 e PPS
  • Dimensioni: 13 × 10 × 6 cm
  • Peso: 0,13 kg

Compatibilità

Schede SD di diverse dimensioni con pin identici; soluzioni Chipsbank, UT165, Anguo, SMI e NETWORK tramite schede di rilevamento intercambiabili

Scheda di test SD DIP48 a doppia testa per circuiti integrati

Scheda di test SD DIP48 a doppia testa per circuiti integrati - immagine 2

Scheda di test SD DIP48 a doppia testa per circuiti integrati - immagine 3

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